器件制造商給出的器件阻抗值所代表的是在規(guī)定的測量條件下器件所能達到的性能，以及在生產(chǎn)這些器件時所允許出現(xiàn)的器件性能的偏差。如果在設計電路時需要很精確地知道所使用器件的性能的話，就有必要專門對器件進行測量來驗證其實際值與標稱值之間的偏差，或在不同于制造商測試條件的實際工作條件下測量器件的阻抗參數(shù)。 　　

        由于寄生電感、電容和電阻的存在，所有器件的特性會隨著測量頻率的變化而變化的現(xiàn)象是非常常見的。 　　

        圖1顯示的是一個常用的電容器在理想情況下其阻抗隨頻率變化的特性和實際上有寄生參數(shù)存在時其阻抗隨頻率變化的特性之間的差別。 　　 　　

圖1. 電容器的頻率特征 　　

        器件阻抗的測量結(jié)果還會受到在測量時所選擇的測量信號的大小的影響，圖2顯示的是阻抗測量結(jié)果隨著交流測量信號的大小而變化的情況 : 　　

● 電容值 ( 或材料的介電常數(shù)，即 K值 ) 的測量結(jié)果會依賴于交流測量信號電壓值的大小。 　　

● 電感值 ( 或材料的磁滯特性 ) 的測量結(jié)果會依賴于交流測量信號電流值的大小。 　　

        如圖3和其中的公式所示，在測量時實際施加在被測器件兩側(cè)的交流電壓 VDUT 是和它自身的阻抗、信號源的內(nèi)阻以及信號源的輸出電壓有關的。 　　

        使用儀表的自動電平控制 (ALC)功能可使被測器件 (DUT) 兩側(cè)的電壓保持在一個恒定的值上。如果儀表內(nèi)部沒有 ALC 功能但是有監(jiān)測信號大小的功能，可以利用這個功能給這種儀表編寫一個相當于 ALC 功能的控制程序來保證被測器件兩端上的電壓穩(wěn)定。 　　

        通過控制測量積分時間 ( 相當于數(shù)據(jù)采集時間 ) 可以去除測量中不需要的信號的影響。利用平均值功能可以降低測量結(jié)果中的隨機噪聲。延長積分時間或增加平均計算的次數(shù)可以提高測量精度，但也會降低測量速度。在儀表的操作手冊中對這部分內(nèi)容都有詳細的解釋。 　　

        其它有可能影響測量結(jié)果的物理和電氣因素還包括直流偏置、溫度、濕度、磁場強度、光強度、振動和時間等。 　　 　　

圖2. 測量結(jié)果對測量信號大小的依賴性 　　 　　

圖3. 實際施加到被測器件上的信號和保證信號穩(wěn)定的原理        

以上就是如何使用LCR測試儀選擇正確的測量條件的介紹。

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