高效率耐壓測(cè)試解決方案耐壓測(cè)試是電氣安規(guī)測(cè)試中最主要的項(xiàng)目之一，所有的電氣組件及產(chǎn)品，包含變壓器、電容、電源供應(yīng)器、充電器、家電產(chǎn)品等，皆需要進(jìn)行耐壓測(cè)試。

Chroma結(jié)合30年以上開(kāi)發(fā)經(jīng)驗(yàn)，針對(duì)耐壓測(cè)試開(kāi)發(fā)全新架構(gòu)的19020致茂多通道同步耐壓測(cè)試儀，可同時(shí)量測(cè)所有通道的耐壓漏電流值，最高可讓您同時(shí)對(duì) 100 個(gè)待測(cè)物進(jìn)行測(cè)試。

使用19020不需另外購(gòu)買多臺(tái)耐壓測(cè)試器，減少產(chǎn)線空間浪費(fèi)，單次多通道測(cè)試，提升電氣安規(guī)測(cè)試的效率，對(duì)于產(chǎn)在線只需要做耐壓測(cè)試的產(chǎn)品，可增進(jìn)產(chǎn)線效能，減少測(cè)試風(fēng)險(xiǎn)。

19020同樣具有電氣閃絡(luò) (Flashover) 偵測(cè)功能以及開(kāi)短路偵測(cè) (OSC) 強(qiáng)大功能，單機(jī)可同時(shí)10組通道同步輸出及量測(cè)，最大可連接10臺(tái)單機(jī)控制 (Master & Slave) 共100 組通道，也可進(jìn)行分組輸出，除了避免相鄰測(cè)試的壓差產(chǎn)生，更可增進(jìn)產(chǎn)線效率。

產(chǎn)品應(yīng)用19020可應(yīng)用各種電氣產(chǎn)品，包含品保抽樣檢驗(yàn)測(cè)試、產(chǎn)線測(cè)試等耗時(shí)的測(cè)試。

致茂多通道同步耐壓測(cè)試儀產(chǎn)品特點(diǎn)：

■ 十組通道在一臺(tái)設(shè)備

■ 十組同步輸出與量測(cè)

■ ACWV / DCWV / IR 三合一安規(guī)測(cè)試

■ 10 臺(tái)主/從機(jī)控制

■ 可程序電壓輸出及限制值

■ OSC 開(kāi)短路偵測(cè)

■ Flashover 電氣閃絡(luò)偵測(cè)

■ 5kVac & 6kVdc 耐壓測(cè)試

■ 1MΩ ~ 50GΩ 絕緣阻抗測(cè)試

■ 標(biāo)準(zhǔn) RS232 / Handler / GPIB 接口

■ 大型 LCD 面板

■ 面板鎖定功能

■ CE 認(rèn)證

產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)：

同步耐壓測(cè)試

多顆待測(cè)物耐壓測(cè)試最常碰見(jiàn)的課題是輸出無(wú)法同步。在產(chǎn)線規(guī)劃或自動(dòng)化規(guī)劃時(shí)，為達(dá)到設(shè)備極小化及最大空間利用，二個(gè)待測(cè)物之間的距離會(huì)很小。以輸出電壓5kVac為例，當(dāng)耐壓測(cè)試器的輸出不同步時(shí)，將會(huì)造成二個(gè)待測(cè)物之間產(chǎn)生高電壓差(最大可達(dá)14kV peak-peak) 的放電，導(dǎo)致治具損壞及測(cè)試誤判。Chroma 19020將輸出電壓同步化，相鄰的二端高壓之間將不會(huì)發(fā)生高壓差而導(dǎo)致放電，不但可延長(zhǎng)您產(chǎn)線設(shè)備的壽命，也減少測(cè)試誤判的情形發(fā)生。

電氣閃絡(luò)(Flashover)偵測(cè)

19020 與Chroma其它安規(guī)測(cè)試系列儀器同樣具有Flashover偵測(cè)功能。Flashover是絕緣材料內(nèi)部或表面因高電界產(chǎn)生電氣放電，待測(cè)物失去原有之絕緣特性，形成瞬時(shí)或非連續(xù)性放電，導(dǎo)致碳化導(dǎo)電通路產(chǎn)生或產(chǎn)品傷害。若只以漏電流判定則無(wú)法檢出不良，須以測(cè)試電壓或漏電流之變化率判定檢出不良。因此Flashover偵測(cè)為高壓測(cè)試的檢視項(xiàng)目之一。

開(kāi)短路偵測(cè)(OSC)

OSC 功能為偵測(cè)測(cè)試過(guò)程中是否有開(kāi)路(接觸不良)或短路(待測(cè)物短路)的情形發(fā)生。測(cè)試過(guò)程中若發(fā)生開(kāi)路現(xiàn)象，會(huì)導(dǎo)致不良品誤判為良品 ; 若發(fā)生短路現(xiàn)象，可提早得知并篩選，減少對(duì)治具設(shè)備的傷害，節(jié)省測(cè)試成本。一般耐壓測(cè)試產(chǎn)品皆呈電容性(Cx)，在正常狀態(tài)下可能在數(shù)十pF至數(shù)µF之間，一旦發(fā)生連接斷路則會(huì)在斷路界面形成微小電容量(圖6)，一般低于10pF，而呈現(xiàn)整體電容量遠(yuǎn)低于正常產(chǎn)品現(xiàn)象。而當(dāng)待測(cè)物短路或接近短路時(shí)時(shí)則會(huì)呈現(xiàn)電容量遠(yuǎn)高于正?，F(xiàn)象，因此可利用電容量變化之上下限值判定出短路問(wèn)題。

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19035 : 繞線組件安規(guī)掃描測(cè)試器

A190347 : GPIB & Handler 接口與溫度量測(cè)棒端子

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